粒度儀從研發(fā)問世到現(xiàn)在已經(jīng)有四、五十年歷史，由于國家經(jīng)濟發(fā)展的需要，各行各業(yè)對材料性能的要求越來越嚴(yán)苛，材料顆粒粒度的大小和分布情況對材料的性能起著很重要的作用，因此粒度分析技術(shù)和分析儀器便應(yīng)勢發(fā)展起來。
它是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測試粒度分布的，由于激光具有很好的單色性和*的方向性，所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無窮遠(yuǎn)的地方，并且在傳播過程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。
粒度儀是基于光衍射現(xiàn)象設(shè)計的，當(dāng)光通過顆粒時產(chǎn)生衍射現(xiàn)象（其本質(zhì)是電磁波和物質(zhì)的相互作用）。衍射光的角度與顆粒的大小成反比。不同大小的顆粒在通過激光光束時其衍射光會落在不同的位置，位置信息反映顆粒大小；同樣大的顆粒通過激光光束時其衍射光會落在相同的位置。衍射光強度的信息反映出樣品中相同大小的顆粒所占的百分比多少。
粒度儀通過*的分析軟件，實現(xiàn)生產(chǎn)的實時分析及檢測，大大提交了生產(chǎn)效率，為質(zhì)量控制助一臂之力，作為一種新型的粒度測試儀器。該儀器對于粉磨，分級生產(chǎn)過程的工藝控制具有非常重要的意義，是企業(yè)節(jié)能降耗提高產(chǎn)品質(zhì)量的可靠助手。
粒度儀采用離心循環(huán)泵和微量樣品池兩種進(jìn)樣方式；采用全程米氏理論和自由分布模型的數(shù)據(jù)處理方式；采用半導(dǎo)體激光器，功率大、壽命長、單色性好；采用專門設(shè)計的由大規(guī)模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列；采用高精度的數(shù)據(jù)傳輸與處理電路等一系列的技術(shù)和制造工藝，使該儀器具有可靠、測試速度快、重復(fù)性好、操作簡便等突出特點。
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